Niska degradacja ogniw N-type TOPCon
Technologia N-type TOPCon eliminuje efekt LID (Light-Induced Degradation) charakterystyczny dla ogniw P-type. Dla serii NT12R deklarowana degradacja w roku 1. wynosi do 2,5%, a następnie ~0,4%/rok – wobec typowych 0,55%/rok dla PERC, co przekłada się na realnie wyższy uzysk skumulowany po 20+ latach eksploatacji.