N-type TOPCon – niższa degradacja i odporność na LID
Ogniwa N-type TOPCon wykazują roczną degradację ≤0,4% (vs ~0,45% dla PERC) i są pozbawione efektu LID związanego z parami bor-tlen. Badanie Wiley/Progress in Photovoltaics (2025) potwierdza, że moduły TOPCon nie wykazują podwyższonej wrażliwości na LID ani LeTID, co przekłada się na realnie wyższy uzysk przez cały cykl życia instalacji.