LeTID (Light and elevated Temperature Induced Degradation) to spadek mocy ogniw krzemowych, który pojawia się pod światłem, gdy moduł pracuje w temperaturze powyżej około 50 °C. W odróżnieniu od klasycznego LID, który kończy się w kilka dni, LeTID rozwija się w terenie przez miesiące, a nawet lata, i dopiero potem moc bardzo powoli wraca. Dotyczył przede wszystkim ogniw PERC na krzemie typu p.
Skąd się wziął
Zjawisko opisali po raz pierwszy w 2012 roku badacze Schott Solar na wielokrystalicznych ogniwach PERC, a nazwa LeTID przyjęła się kilka lat później. Raport NREL i Colorado School of Mines z 2023 roku wiąże je z wodorem, który podczas wypalania ogniwa przechodzi z warstw pasywujących (azotku krzemu, tlenku glinu) do wnętrza płytki. Ten sam raport podaje, że w cieplejszych regionach, gdzie moduły nagrzewają się powyżej 50 °C, LeTID zabierał około 10% sprawności względnie, a pełny powrót w terenie mógłby trwać ponad 25 lat. Zjawisko występuje także w płytkach typu p domieszkowanych galem, choć badanie ISFH z 2022 roku zmierzyło na takich ogniwach spadek około pięć razy mniejszy niż na borowych.
Czy dotyczy polskiego dachu
Próg 50 °C nie jest egzotyczny. Już w warunkach NOCT (800 W/m², powietrze 20 °C, lekki wiatr) ogniwa typowego modułu z naszej bazy mają 45 °C. W pełnym letnim słońcu i upale moduł na dachu jest jeszcze cieplejszy, więc latem warunki do LeTID zdarzają się także na polskim dachu. Ponieważ zjawisko jest powolne, jego skutek wygląda w danych z monitoringu jak szybsza degradacja roczna w pierwszych latach, a nie jak nagła awaria.
Jak się przed nim chronić przy zakupie
Raport IEA PVPS z 2025 roku uznaje LID i LeTID za dobrze poznane i rozwiązane dzięki płytkom domieszkowanym galem, zmianom w procesie produkcji, cieńszym płytkom i czystszemu krzemowi. Od 2022 roku istnieje też specyfikacja IEC TS 63342, która wykrywa podatność modułu na LeTID przez wstrzykiwanie prądu w podwyższonej temperaturze. Specyfikacja sama zastrzega, że wynik nie przewiduje dokładnie strat w terenie, bo te zależą od klimatu i technologii, ale pozwala odsiać podatne konstrukcje.
W praktyce:
- Moduły TOPCon i HJT powstają na krzemie typu n, a raport NREL opisuje LeTID jako zjawisko typowe dla krzemu typu p. Tabela poniżej pokazuje, ile modułów każdej technologii jest w naszej bazie.
- Przy module PERC zapytaj, czy płytki są domieszkowane galem i czy moduł ma raport z testu LeTID według IEC TS 63342.
- Sprawdź dopuszczalny spadek w pierwszym roku i degradację roczną w gwarancji na moc: to tam producent bierze odpowiedzialność także za LeTID.
| Technologia | Modele w bazie | Udział | Mediana mocy | Mediana sprawności | Mediana wsp. temp. Pmax |
|---|---|---|---|---|---|
| PERC | 4310 | 31% | 455 W | 20,8% | -0,35%/°C |
| TOPCon | 5733 | 41% | 525 W | 22,5% | -0,29%/°C |
| HJT | 697 | 5% | 605 W | 22,6% | -0,24%/°C |
| Back Contact | 439 | 3% | 495 W | 23,6% | -0,26%/°C |
| CdTe (cienkowarstwowe) | 51 | 0% | 470 W | 18,5% | -0,32%/°C |
Dane: baza PV Index (karty katalogowe producentów), stan na 17.10.2026. Mediany liczone z modeli, które podają daną wartość.
Źródła
- IEC TS 63342:2022, C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection
- IEC TS 63342:2022, próbka dokumentu z zakresem (temperatura powyżej 50 °C, skala czasu w terenie)
- Agarwal, Understanding the Mechanism of Light and Elevated Temperature Induced Degradation of p-type Silicon Solar Cells, Colorado School of Mines i NREL, 2023 (OSTI)
- Kersten i in., Degradation of multicrystalline silicon solar cells and modules after illumination at elevated temperature, Energy Procedia 2015 (praca, która nazwała zjawisko LeTID)
- Winter i in., Light and elevated temperature induced degradation and recovery of gallium-doped Czochralski-silicon solar cells, Scientific Reports, 2022
- IEA PVPS Task 13, Degradation and Failure Modes in New Photovoltaic Cell and Module Technologies, T13-30:2025, streszczenie